[活動講義] 2019年度低功耗芯片動態pA的性能與驗證研討會

2019.08.07 低功耗芯片動態pA的性能與驗證（已結束）

主辦單位: 品勛科技&是德科技
 

* 2019年度低功耗芯片動態pA的性能與驗證研討會已圓滿結束，點此查看研討會錄影檔 

1. 無線充電效率測試及快充和電池性能的深度分析
2. 低功耗芯片的性能測試與驗證
3. 如何有效驗證射頻功耗(可直接預約DEMO)

* 2019年度低功耗芯片動態pA的性能與驗證研討會研討會講義：

* 2019年度低功耗芯片動態pA的性能與驗證研討會活動介紹：

1. 無線充電效率測試及快充和電池性能的深度分析

　　眾所皆知，續航／待機功耗問題是物聯網IoT和行動裝置當下面臨的突出挑戰！
如何提升終端的續航時間？
　　有人研究先進材料和工藝、降低器件或芯片的硬體功耗；有人通過更智能的系統管理、實現系統性能和功耗的平衡。有人給設備配置了更大容量的電池；有人利用快充，縮短電池的補給時間；還有人利用無線充電、給物聯網傳感器無時無刻的給電池補給。
　　八仙過海、各顯神通！本專題從功耗測試、無線充電效率測試、快充和電池特性關係角度，為大家分享keysight測試方案。

2. 低功耗芯片的性能測試與驗證

　　相比於電壓的測試，電流的精確測量要更困難的多！
　　特別是在諸如物聯網芯片、新型存儲器和材料， 高速處理器等高頻、高帶寬、高動態範圍的電流測量， 則極具挑戰——在這些測試中， 我們要面對的是納秒級變化的uA級電流，或者數微秒從uA到數安培、甚至數十安培的電流變化。
　　在本專題中，我們將從傳統的萬用表、電流表、皮安表、示波器等各種儀表的電流測量原理開始， 分析它們電流信號測試的優缺點，重點介紹Keysight 高階電流測試方案— CX3300器件電流波形分析儀，如何測量大動態、高帶寬變化的電流， 以及芯片工作的高速變化的小電流？
　　CX3300器件電流波形分析儀關鍵指標為： 電壓噪聲（400nV）、電流噪聲（150pA）；16bit垂直分辨率、1GSa/s採樣率。並已經在存儲器、處理器、物聯網、GaN/SiC功率器件、安全加密、生物醫療等應用廣泛使用！

3. 如何有效驗證射頻功耗

　　近來儀器設備廠商一直強調訊號低功耗測試，卻忽略在看訊號的同時也獲得射頻的信息。
在本專題中，針對「功耗測試」及「無線射頻性能測試」，讓您看到以往見不到的動態電流（pA），也同時
有效解決由射頻產生的功耗等問題。
 

* 網路分析儀：E5061B、E5063A ENA系列網路分析儀
* 電流元件波型分析儀：CX3324A動態pA低功耗測試專家
* 直流電源分析儀：N6705C直流電源分析儀低功耗測試專家

* 2019年度低功耗芯片動態pA的性能與驗證研討會相關技術文章：

* 延伸閱讀： 點閱物聯網裝置功耗測試白皮書
* 延伸閱讀： 點閱透過電流特性分析加快物聯網裝置的除錯和評估工作白皮書
* 延伸閱讀： 點閱掌握信號完整性和電源完整性設計白皮書
* 延伸閱讀： 從超低微功率電源效率分析著手來優化IoT功耗
* 延伸閱讀： 寬禁帶功率元件的驅動設計揭秘