[線上研討會] 掌握 I/V 測試關鍵技術：半導體電性測試實戰攻略

親愛的客戶，您好：

　　在 AI、大數據、量子運算與車用電子蓬勃發展的當下，半導體元件的密度更高、反應更快，也帶來前所未有的電性測試挑戰。在元件尺寸持續縮小、操作速度越來越快的今天，傳統的 I/V 測試方式已無法滿足新世代半導體元件的量測需求。如何在這些快速變化的應用中，維持元件的效能與穩定性？面對高速演進的 AI、量子計算、車用電子等應用，測試方法與流程也極需同步進化。

您是否也曾遇過以下挑戰：

◆ 測試過程中元件特性變化太快，儀器來不及量測到關鍵數據？
◆ 想測「脈衝電壓刺激後的元件響應」，卻苦於設備受限、設定繁瑣？
◆ 同一元件需要做 I-V、C-V、脈衝與時間序列測試，卻無法整合分析？

本場線上研討會將以實際應用角度出發，從半導體元件電性量測的原理與實務操作技巧談起，延伸到如何應對「元件微弱電流量測」、「短時間電性行為變化捕捉」等技術瓶頸，幫助您提升整體測試效率與結果準確度。

 ** 全程專家在線，有問必答，歡迎踴躍報名。 **

在本線上研討會中，我們將一同：

◆ 探討微小訊號量測時的穩定性與準確性提升方法
◆ 分享應用於可靠度驗證中的短時間測試手法與挑戰
◆ 示範如何規劃多項測試任務的整合與流程設計
◆ 實際DEMO測試：

◆ Lab #1 
◆ Lab #2 
◆ Lab #3 



 

注意事項

* 報名後及課程前 15 分鐘發出提醒信，請利用該信件連結進入會議室
* 建議使用 Chrome 瀏覽器進入會議室
* 主辦單位將視情況保有進入會議室權限，敬請體諒
* 課程專家在線全程提供即時問答，填寫問卷還可參加好禮抽獎
* 歡迎將本課程與您的同事或業界好友分享！經主辦方審核確認，您推薦的好友或同事報名並出席活動，
推薦人與被推薦的新朋友將於會收到 City Café 咖啡券（限量前 50 份，恕無法重複發放）


 

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